Frankfurt/Main – Das US-börsennotierte Unternehmen Nova Ltd., ein Anbieter von Lösungen für die Dimensions-, Material- und chemische Messtechnik für die Prozesssteuerung in der Halbleiterfertigung, hat eine Vereinbarung über den Erwerb der Sentronics Metrology GmbH, einen führenden Hersteller von spezifischen Messgeräten für die Halbleiterindustrie, im Rahmen einer Bartransaktion im Wert von circa 60 Millionen US-Dollar getroffen. Die Übernahme steht noch unter dem Vorbehalt der üblichen Bedingungen und behördlichen Genehmigungen und wird voraussichtlich im ersten Quartal 2025 abgeschlossen sein.

Ein Team um Lead Partner Dr. Hendrik Hirsch hat die Gesellschafter von Sentronics Metrology bei dieser Transaktion umfassend rechtlich beraten.

Sentronics Metrology ist ein globaler Anbieter von halb- und vollautomatischen Wafer-Messgeräten für die Halbleiterindustrie, von kompletten Fertigungsprozessen bis hin zu fortschrittlichen Verpackungen.

CMS in Deutschland
Dr. Hendrik Hirsch, Lead Partner
Dr. Dirk Baukholt, Principal Counsel
Maxine Notstain, Counsel
Dr. Maximilian Stark, Senior Associate
Lorenz Stefan Liebsch, Senior Associate
Dr. Till Alexander von Poser und Groß Naedlitz, Associate (alle Corporate/M&A)
Dr. Martin Friedberg, Partner (Tax)
Dr. Thomas Hirse, Partner (IP)
Kai Neuhaus, Partner
Moritz Pottek, Counsel (beide Antitrust, Competition & Trade)
Stefanie Schramm, Legal Tech Manager
Sarah Przybylski, Senior Legal Specialist (beide Smart Operations)